在半导体制造过程中，静电是一个需要严格控制的因素，因为即使是微小的静电放电也可能损坏敏感的电子元件或导致尘埃粒子吸附在晶圆表面，从而影响产品的成品率和可靠性。
在整个半导体制造过程中都会产生静电荷，主要由不同材料的接触和分离引起。静电荷通过三种方式影响生产率和良率，静电荷会静电吸引（ESA）空气中的颗粒，从而导致晶圆和光罩的潜在良率损失。
日本SIMCO思美高产品在半导体领域的应用主要集中在静电控制和除静电设备方面，以减少生产中的静电和微粒对半导体制造过程的影响。SIMCO思美高的静电控制和除静电设备、离子棒和离子风机等设备通过电晕放电产生正负离子，中和空气和工作表面的静电荷，从而减少静电吸附和放电对半导体制造过程的影响。
静电测试仪
FMX-004 静电测试仪
FMX-004静电测试仪是一款紧凑型静静电测试仪，用于定位和测量静电荷，其袖珍尺寸和三键操作使其使用方便快捷。
特点：
轻巧、紧凑的设计
测距灯确保测量准确且可重复
自动量程切换可达 ±30 kV (30,000V)，距离为 1"
带有 +/- 指示器的数字和条形图显示
不活动时自动关机
FMX-004还提供用于模拟输出的可选电缆和支架套件，此功能允许在使用过程中可提取和监控数据。模拟输出支架可安装现场仪表，以便连续采集读数。模拟信号可与 PLC、数据采集卡、数据记录器、图表读取器等设备配合使用。
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